基于PCI总线的石英晶体元件电参数测试仪

首先介绍PCI总线控制专用芯片S5920的组成,Mailboxs、FIFO、Pass-Thru的基本概念、性能和使用方法。其次介绍测量石英晶体元件参数的阻抗计法和π网络法。对基于PCI总线控制器S5920为核心的π网络法石英晶体元件电参数测试仪的设计和实现作了说明。该方法测量的频率可达2005MHz。利用GPs高精度的授时信号作为频率校准信号校准信号源的精度。     

弹载引信电控扫描识别目标方位的方法

研究了弹载引信电控扫描识别目标方位的一种方法，该方法是：首先研究一种周期电控脉冲起动单刀四掷微波开关，该开关又逐次起动可瞄准定向天线的每一元和它们的公共收发系统。因而该系统既能全向搜索空中目标，又能分区截取回波信号，由此获得引信天线电控扫瞄形式的可瞄准探测系统。     

喷管内型面烧蚀对发动机能量的影响

根据同一推进剂不同结构的两种型号发动机的试验结果，分析了喷管内型面烧蚀对发动机能量影响，提出了在两种烧蚀率相差较大的材料之间镶嵌一种烧蚀率适中的材料，可减少喷管内型面的烧蚀，提高喷管推力效率。     

阳极氧化铝模板法制备CoPt纳米管

采用电化学直流沉积,首次在氧化铝模板中成功制备出直径为50 nm的CoPt纳米管高度有序阵列。利用透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)以及振动样品磁强计(VSM)对样品的结构和磁学特性进行测试。分析表明,CoPt纳米管是以面心立方(fcc)结构存在。当外加磁场与纳米线平行时,CoPt合金纳米管的矫顽力达450 Oe,这种大面积制备的CoPt纳米管希望在超高密度信息磁存储上得到应用。     

正—反激组合式变换器与单端式变换器的比较

以５０Ｗ变换器为例，分别从磁性元件的大小，功率管上的电应力、磁恢复问题，输出纹波及输出特性等方面，详细分析比较了组合式变换器与单端式变换器的优缺点，并给出了具体数据，提出了正－反激组合式变换器具有电压应力低，磁性元件小，体积小，重量轻，输出纹波小及可靠性高的结论。     

提高电铸局部电沉积速率试验研究

电铸成型是采用离子沉积的方法制造复制件，具有很好的复制精度，因此电铸技术得到了广泛的应用。但由于受极限电流密度等多方面因素的影响，电铸速率一直是制约电铸技术发展的一个瓶颈，许多学者为此做了大量的理论和试验研究，但对如何提高极限电流密度还没有提供一个比较满意的答案，为提高电铸局部电沉积速率，本文在前人工作的基础上，讨论了影响电铸速率的因素，提出了一种新型的电铸方法－喷射式电铸，并通过两组试验分析了局部电沉积速率怀电铸液流量的关系以及局部铸速率与喷嘴口径的关系，试验结果表明，采用喷射式电铸可以大大提高局部极限电流密度，从而使电铸局部电沉积速率有一个较大范围的提高，为将电铸与快速成型结合奠定了试验基础。     

电励磁双凸极电机调速系统的原理与实现

介绍了新型电励磁双凸极电机的结构和原理，然后结合全桥变换器阐述了电励磁双凸极电机的控制方法，接着详细介绍了电励磁双凸极电机转速、电流双闭环控制调速系统的原理和实现方法，最后以一台500W12/8极电励磁双凸极电机调速系统为例进行了系统实验。实验结果表明，电励磁双凸极电机调速系统具有结构简单、控制方便和良好的动静态性能。     

稀土对电沉积镍基复合镀层高温抗氧化性的影响

研究了稀土加入三种电沉积镍基复合镀层Ni—B_4C、Ni—TiC、Ni—ZrO_2前后,在850℃时的氧化行为。通过金相观察、ESCA(光电子能谱)分析及X射线衍射等方法研究表明:镀层中不同的复合颗粒和稀土两者对镀层的抗氧化能力均有影响。其小不同种类的颗粒对镀层抗氧化能力所产生影响的差别很明显;而稀土对镀层抗氧化能力影响的差别较小,且影响的程度比较接近。另外,两者影响的机理也不同。颗粒是通过分解、扩散等过程改变表面膜的组成来影响的,而稀土则是从提高膜的致密度和膜与基体的粘附性来影响的。作者认为,它们的影响既互相独立,而又互相补充。     

纳米-微米纤维复合形式对惯性粒子过滤性能影响的数值研究

考虑纳米纤维表面流体滑移效应,在二维简化模型下采用数值方法研究了纳米-微米复合纤维对惯性粒子的捕集行为。分析了纳米-微米纤维复合形式对粒子捕集效率、效率增长比例因子以及综合过滤性能的影响。结果表明:在微米纤维迎风面45°和90°处放置纳米纤维,可显著增大复合纤维对粒子的捕集效率,并对弱惯性或中等惯性粒子捕集表现出较高的过滤性能质量因子;而当纳米纤维位于微米纤维迎风面0°位置时,仅对3μm以下粒子的捕集效率起增大作用;纳米-微米纤维间距(δ)增大对粒子的捕集效率有增大作用,且与纳米纤维放置角度和所捕集的粒子大小均有关。     

一种恒电长度干涉仪分析的新方法

对数周期天线的相位中心随频率呈线性变化,用2个对数周期天线可以构成具有恒电特性的干涉仪天线阵,在工程应用中,天线相位中心较大的测试误差会导致天线阵调试困难.通过对恒电长度干涉仪的分析,提出了利用相位扫频测试对天线阵进行调试分析的方法,避免了繁杂的相位中心测试,简化了天线阵的调试过程,测试数据可直接用于系统校正.