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系统可靠性评估技术发展综述 总被引:11,自引:0,他引:11
系统可靠性定量评估一直是军用产品可靠性工作的重要工作项目之一(GJB 450A),该工作项目利用概率统计分析技术,通过对系统构成相关的元器件、零部件和设备失效率数据以及各类试验数据进行分析,逐层进行系统可靠性综合,检查各级产品是否达到了规定的可靠性目标。在系统设计权衡决策、试验方案的选择等方面具有举足轻重的作用。系统可靠性评估主要包括可靠性模型的建立、可靠性数据的收集和处理、产品单元的可靠性评估、系统可靠性综合等4个方面的技术内容。系统可靠性评估的技术流程如下: 相似文献
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用软件包和FOM方法分别计算了BX1750A芯片在三种太阳同步轨道以及不同宇宙环境下的单粒子翻转率。根据器件及单片机系统在轨单粒子翻转率与“零翻转”可靠度的关系,量化地评估了该芯片及所属系统应用于不同飞行任务时的抗单粒子翻转(SEU)性能。分析结果表明,BX1750A芯片抗单粒子效应的性能较高,可作为低太阳同步轨道3年或5年寿命卫星关键计算机系统的选用芯片。同时为确保系统SEU零失效,有必要采取软件和其他加固措施。 相似文献
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马广云 《北京航空航天大学学报》1993,(1):80-84
本文介绍一种粒子图象电影测速技术,该技术采用机械调制装置及光学透镜,将连续输出的氩离子激光调制成周期性脉冲片光源序列,并与快速照相枪匹配,可以连续拍摄流场一个截面上随时间发展过程中不同瞬态的一系列两次或多次曝光的粒子图象底片,因而不仅可以取得流动一个截面上的瞬时二维速度场,并且可以获得该流动截面速度场发展的时间历程,为定量研究非定常流动随时间的发展特性提供了一种有效途径。 相似文献
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空间等离子体导致高电压太阳阵的电流收集 总被引:3,自引:0,他引:3
给出一种能方便计算空间等离子体引起高电压太阳阵(HVSA)电流收集的理论统计模式,通过对物理过程分析认为空间等离子体致HVSA的功率损耗对HVASA的设计是不应忽视的。 相似文献
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给出了浮栅ROM器件的质子辐射效应实验结果.认为浮栅ROM28C256和29C256的质子辐射效应不是单粒子效应,而是质子及其次级带电粒子产生的累积剂量造成的总剂量效应.器件出现错误有个质子注量阈值.对于29C256,高温加电退火容易消除质子产生的辐射损伤;对于28C256,高温加电退火不易消除质子产生的辐射损伤.动态监测和静态加电的器件都出现数据错误,且不能用编程器重新写入数据.然而不加电的器件在更高的质子注量辐照下未出现错误.对于应用浮栅ROM器件的航天器电子系统,冷备份是提高其可靠性的有效手段之一. 相似文献