用蒙特卡罗法数值模拟CCD相机的杂光

采用蒙特卡罗（Ｍｏｎｔｅ－Ｃａｒｌｏ）法对卫星ＣＣＤ相机的地气杂光进行了计算。主体段杂光系数的计算值与用积分球实验测量值属同一数量级,表明该方法和计算软件具有一定的可靠性;分析计算值与测量值产生偏差的因素发现,热物性参数的不确定性对数值模拟影响很大。分析了遮光罩长度、反光镜扫描角度等变化对杂光系数的影响,结果表明,遮光罩长度不变,而反光镜的扫描角度为４５℃时,光线的进入比例最大,而杂光系数最小。     

星敏感器遮光罩消光比定量测试及数据处理方法

面向星敏感器在轨工作时的杂光抑制需求,开展星敏感器遮光罩消光比定量测试及数据处理方法研究。基于高灵敏度弱光探测组件、高精度电控转台以及太阳模拟器搭建杂光集成测试平台,在电控转台步进电机的驱动下实现不同光照角度时遮光罩消光比测量数据的实时获取。根据构建的数据处理模型计算获得遮光罩的消光比,并基于A类不确定度评定方法完成消光比测量的不确定度分析。从测量结果可以看到,在光照入射天顶角达到保护角30度时,消光比测量值达到10-6量级,在光照入射天顶角为54度时,消光比测量值达到10-7量级,且多次测量数据的变化规律基本一致。测量结果表明了测量方案的合理性和可行性,可为星敏感器系统方案设计、测试与评估提供重要的技术支持。     

不同介孔结构的SiO2 对PMMA 性能的影响

分别采用二维六方孔结构SiO2(SBA-15) 和蠕虫状孔结构SiO2(MSU-J) 与MMA 原位聚合制备

介孔SiO2 / PMMA 杂化材料。采用XRD、N2 吸附-脱附、SEM、DSC 和TGA 等方法研究了材料的微观结构、力学

性能、热性能和介电性能。结果表明:介孔SiO2 对PMMA 有增强增韧作用,同时也有利于杂化材料热性能和介

电性能的提高。杂化材料的热稳定性和耐热性均高于PMMA,含4wt% 的SBA-15/ PMMA 和7wt% 的MSU-J/

PMMA 杂化材料的介电常数由2. 91 分别降至最低2. 73 和2. 64。

     

TiO2含量对TiO2／有机硅／SiO2杂化涂层性能的影响

本文采用溶胶-凝胶法,先分别制备出TiO2溶胶和有机硅/SiO2杂化溶胶,再通过原位聚合的方法在有机硅/SiO2杂化溶胶中加入TiO2溶胶,制备出不同TiO2含量的TiO2,有机硅,SiO2杂化材料.红外光谱研究表明,杂化材料中Ti原子已接枝到了杂化网络中.对成膜后的TiO2/有机硅/SiO2杂化涂层性能进行研究,结果表明,TiO2加入量为1 wt%时涂层有较好的物理性能和耐蚀性,并且具有良好的防霉效果.     

航空发动机故障诊断技术及其发展

阐述了发动机控制系统故障诊断技术的研究现状,并探讨了现有的各种故障诊断方法及特点,指出了该领域有待进一步研究的主要问题和发展趋势。     

红外辐射测量系统内部杂散辐射建模与仿真

杂散辐射是影响光学系统性能的重要因素,对于红外光学系统,除了外部杂散辐射,还须考虑系统自身结构产生的内部杂散辐射。为提高红外辐射计内部杂散辐射分析的精度,建立了 1种基于复合蒙特卡洛法的内部杂散辐射数学模型。首先,将红外辐射计的内部杂散辐射源根据位置分为 2部分:遮光罩入瞳处的热辐射和辐射计内部光学元件、机械部分所发出的热辐射。对于遮光罩入瞳处和辐射计内部光机元件发出的杂散辐射,分别采用正向蒙特卡洛法和反向蒙特卡洛法进行追踪,得到探测器接收面入瞳处的杂散辐射辐照度分布,进而分析不同位置的发射源对接收面入瞳处的杂散辐射贡献。最后,与直接模拟仿真结果进行对比。实验结果表明,在追迹光线数相等的情况下,该方法的精度更高。仿真结果体现了红外辐射计各部分杂散辐射对探测器入瞳面接收到的杂散辐射造成的影响,对后期开展内部杂散辐射抑制提供了方向。     

多光谱扫描仪的杂光计算

本文采用蒙特卡洛法计算太阳光进入星载光学系统的杂光数量级。并对一具体结构的多光谱扫描仪进行了计算，以确定其消杂光能力。对某些参数的变动也进行了计算，为设计和修改提供了依据     

短碳纤维增强PPEK复合材料的性能研究

采用熔融共混的方式制备了不同短碳纤维含量增强含二氮杂萘酮聚芳醚酮(PPEK)基复合材料，对复合材料的加工性能、力学性能、摩擦性能、耐热性进行了研究。结果表明：短碳纤维增强复合材料均可以注塑成型；短碳纤维对PPEK的增强作用明显，拉伸强度和弯曲强度均有大幅提高；复合材料中短碳纤维起到了明显的自润滑作用，复合材料的摩擦系数和磨损率均随碳纤维含量的增加而明显降低；短碳纤维的加入进一步提高了复合材料的耐热性。     

混合式步进电动机的复合控制

研究混合式步进电动机相电流的复合控制。阐述了复合控制原理；阐明了前馈补偿装置的设计原则及其函数；给出试验验证，表明采用复合控制后可以减少转矩中所含的谐波分量，削弱振动和噪音，提高系统的精度。