首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   29篇
  免费   7篇
  国内免费   6篇
航空   20篇
航天技术   11篇
航天   11篇
  2023年   4篇
  2022年   3篇
  2021年   3篇
  2019年   3篇
  2018年   2篇
  2017年   2篇
  2014年   1篇
  2013年   2篇
  2012年   1篇
  2011年   2篇
  2010年   2篇
  2009年   4篇
  2007年   3篇
  2006年   1篇
  2004年   2篇
  1998年   1篇
  1993年   1篇
  1990年   4篇
  1987年   1篇
排序方式: 共有42条查询结果,搜索用时 15 毫秒
41.
铝合金凭借其优良特性广泛应用于工业制造,产生了大量废旧铝合金,而新生产铝合金会消耗大量能源且对环境造成污染,因此回收再利用废旧铝合金有重要意义,须找到对铝合金进行分类回收的高效分类方法。基于表面成分检测技术-激光诱导击穿光谱技术(LIBS),先采集铝合金表面成分的光谱信息,再结合ELMAN神经网络、人工神经网络(ANN)以及随机森林(RF)模型分别对全谱数据和特征谱线数据进行了铝合金系列分类和牌号分类。研究表明:LIBS结合RF模型,能够更加快速准确的对6个系列11个牌号的铝合金进行分类,该结果为废旧铝合金系列及牌号的快速分类提供了参考方法。  相似文献   
42.
接口阻抗测试是航天产品中对产品状态是否正常来进行判断的常用方法。在航天产品应用中,通常认为接口芯片阻抗测试异常即代表该接口芯片已经失效。本文针对一种LVDS接口发送芯片由静电导致阻抗测试异常,但功能正常的现象进行分析。在元器件失效分析的基础上,定位静电损伤的位置为芯片内部静电防护电路,从而建立了对应的电路模型,对芯片静电损伤的现象进行理论分析。分析说明:该芯片在被静电打击时,其静电防护电路中一个NMOS管受损,但该电路保护了芯片的功能电路,被击穿的NMOS管等效为一个电阻,因此导致阻抗测试异常,但芯片功能电路未受损的现象,为静电软击穿现象。且可认为该芯片在受静电影响后并未失效,相关电路仍具有正常工作的能力。即阻抗异常现象并不是芯片失效的充分条件。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号