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正福禄克测试仪器(上海)有限公司新近推出了节能专用三相电能记录仪Fluke 1730免费试用活动。此次活动是为庆祝Fluke 1730三相电能记录仪成功上市而开展,面向多学科专业人员以及工程师群体,可以为更多专业人员带来更直观的电能量记录体验,同时帮助他们制定和实施成本节约策略。据了解,为便于更多的工程师能够试用这款记录仪,Fluke公司此次的活动将持续至2014年6月30 相似文献
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先进电传飞行控制系统能够在很大程度上提升民用直升机的操纵性与稳定性,但这种新颖设计给安全性的评估带来了巨大挑战。传统的适航条款可能无法完全覆盖电传飞控直升机的设计特征,需要制定相应的专用条件来判断直升机设计是否满足适航要求。本文围绕直升机电传飞控系统结构交联、操纵权限感知、飞行机组告警、飞行包线保护、指令信号完整性五种专用条件,指出专用条件关注的技术内容;说明条款制定的背景和意义,给出现有的符合性方法及验证技术,并提出直升机电传飞控在型号论证和设计过程中的关键技术问题。本文研究可为民用直升机的适航设计与审定提供一定参考。 相似文献
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本文针对空客A320系列飞机主起落架系统常发故障之一进行了可靠性分析,对其中重要部件制定了预防性维修方案,并介绍了自主研发的专用测试设备。 相似文献
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赵航 《民用飞机设计与研究》2011,(2):73-74
简要介绍了航空专用测试设备的概念,在计量、校准中遇到的问题以及解决问题的途径。 相似文献
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专用测试设备在武器装备质量控制、性能评定、技术指标验证等方面有着广泛的应用,其测试数据是否准确可靠直接影响到装备的质量。专用测试设备的校准与管理是摆在国防军工计量部门面前的一项重要课题。本文分析专用测试设备的特点、现状,并就开展专用测试设备的校准及管理中应注意的问题进行了深入探讨。 相似文献
40.
SRAM FPGA电离辐射效应试验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
针对SRAM FPGA空间应用日益增多,以100万门SRAM FPGA为样品,进行了单粒子效应和电离总剂量效应辐照试验。单粒子试验结果是:试验用粒子最小LET为1.66 MeV·cm2/mg,出现SEU(单粒子翻转);LET为4.17 MeV·cm2/mg,出现SEFI(单粒子功能中断),通过重新配置,样品功能恢复正常;LET在1.66~64.8 MeV?cm2/mg范围内,未出现SEL(单粒子锁定);试验发现,随SEU数量的累积,样品功耗电流会随之增加,对样品进行重新配置,电流恢复正常。电离总剂量辐照试验结果是:辐照总剂量75 krad(Si)时,2只样品功能正常,功耗电流未见明显变化。辐照到87 krad(Si)时,样品出现功能失效。试验表明SRAM FPGA属于SEU敏感的器件,且存在SEFI。SEU和SEFI会破坏器件功能,导致系统故障。空间应用SRAM FPGA必须进行抗单粒子加固设计,推荐的加固方法是三模冗余(TMR)配合定时重新配置(Scrubbing)。关键部位如控制系统慎用SRAM FPGA。 相似文献