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表面粗糙度的光学测量方法 总被引:1,自引:0,他引:1
表面粗糙度的光学测量方法,具有非接触、精度高和响应快等优点,致使研究十分引人注目,发展极快。本文简单介绍了几种典型的光学测量原理和方法及一些商品化的仪器。 相似文献
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表面微观形貌的MOTIF参数计算 总被引:1,自引:0,他引:1
李成贵 《航空精密制造技术》2001,37(1):42-46
对MOTIF参数的基本概念、意义及算法作了介绍,并在精密加工试件上进行了实验。 相似文献
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3D表面粗糙度的测量方法分析 总被引:1,自引:0,他引:1
近二十年内,精密和超精密加工技术对表面质量、性能的评价提出了越来越高的要求,并且希望在三维范围内“完整、全面”地表征表面的形成;而微纳米测量技术、光电子和计算机技术的发展,给三维表面微观形貌的分析奠定了坚实的基础,致使这方面的研究十分活跃.本文旨在对目前几种常见的三维表面测量方法的基本原理、特征及应用范围作一简单的介绍和分析. 相似文献
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分形表面的结构函数及其应用 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了用于表征分形表面的结构函数的定义,起因以及与其它统计量的关系,并给出了实验和结果分析。 相似文献
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在分析二维的功率谱、自相关函数的基础上,利用三阶累积量的对角线切片,提出了一种可用于表征三维粗糙表面度偏离高斯分布程度的双谱分析方法,并通过对几种典型精密加工试件的实验,表明了该方法的合理性。 相似文献
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机加工表面轮廓分形维数的两种计算方法 总被引:6,自引:0,他引:6
基于W-M分形函数提出了机加工表面轮廓分形维数的两种实用算法,即功率谱法和结构函数法.通过使用具有已知分形线数的W-M函数离散数据计算的结果表明,结构函数法比功率过算法准确.并且用两种算法分析了车削加工表面轮廓分形推数D与Ra之问的关系,进而表明Ra值越小,D值越大,此时的表面微观结构越精细. 相似文献
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表面粗糙度的现状及发展 总被引:2,自引:0,他引:2
讨论了表面粗糙度测量和表征中,一些人们感兴趣的有待解决的问题,如:基准、滤波、校准样块、评定软件和表征参数等.认为在3D表面分析中应采用数字滤波,以保留数据的完整性;辨析了现存测量仪器和方法的范围──分辨力空间图中的缺口;介绍了校准样块的制备和测量;同时指出当前评定软件缺乏一致性和标准性,建议设计“软件量规”.最后指出了表面特征分析的发展趋势. 相似文献
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表面粗糙度评定参数的分形表征 总被引:2,自引:0,他引:2
以分形几何理论为基础,利用轮廓谱矩和表面谱矩的概念对表面粗糙度评定参数进行了分形表征,并在此基础上提出了一些新的三维评定参数,如均一性、等方性等。 相似文献