机载计算机结构加速寿命试验原理及实现

加速寿命试验是解决高可靠、长寿命产品可靠性评估等问题的重要加速试验技术。传统的寿命试验方法需耗费大量的时间与成本,而加速寿命试验则通过提高应力水平来加速产品性能衰退,在可以接受的时间内得到有效的试验数据,并预测出产品在正常应力下的寿命。介绍了加速寿命试验产生的背景、基本概念、基本假设、基本理论和具体实现步骤,并以某机栽计算机为例,说明了加速寿命试验的应用过程。     

机载电子产品加速试验研究进展

舰载机机载产品在服役过程中故障率高,故障机理复杂,制约了舰载机作战效能发挥,而传统设计生产阶段的可靠性鉴定试验方法,不能有效推断产品在服役环境下的真实可靠性水平。加速试验是解决高可靠性、小样本产品可靠性评估和验证问题的有效方法,具有低成本、短周期等特征。系统分析了加速试验方法在机载电子产品全寿命周期中的应用现状,包括电子产品加速试验的基本模型、存在问题和发展趋势,从而为有效开展机载电子产品的加速试验提供借鉴。     

加速试验在飞机副油箱尾锥寿命评估中的应用

用加速寿命试验的方法对飞机副油箱尾锥的寿命进行了评估,试验结果和领先试飞都证明用加速寿命试验确定尾锥寿命的方法是可行的。     

型号装备寿命概念及指标验证分析

针对航空发动机型号装备研制中所提出的寿命指标含义不清晰的问题,基于GJB 451和GJB 451A,梳理分析了与寿命相关的参数,进一步明确了各参数之间的相互关系以及寿命与故障关系等。分类分析了个体寿命和总体寿命,明确型号装备寿命指标对应的是装备总体寿命指标。对于型号装备耐久寿命的验证,介绍了2种耐久寿命验证试验类型,明确耐久性试验利用极小样本个体寿命鉴定总体寿命的关键在于合理选择经验系数。针对型号装备长期寿命指标缺少有效验证手段的问题,提出了加速寿命试验和加速耐久性试验2种加速验证方式。     

双应力加速模型的建立及参数估计

建立了威布尔分布下的双应力加速模型并给出了相应的参数估计方法。利用这种模型进行机械产品的加速寿命试验,具有试验时间短、适用于任意变动载荷等特点,是高可靠性产品寿命评估和可靠性分析的一种新方法。     

恒定应力无失效加速寿命试验可靠性分析方法

针对工程中缺少有效方法处理加速寿命试验中出现的无失效数据的情况,提出一种恒定应力水平下的无失效加速寿命试验可靠性分析方法.该方法首先将各个加速应力水平下的无失效寿命试验数据转换到正常应力水平,然后通过对正常应力水平下的无失效寿命数据进行分析,实现产品的可靠性评估与寿命预测.利用该方法对某型号卫星地球敏感器扰性枢轴的无失效加速寿命试验数据进行分析处理,结果表明该方法切实可行,能够充分利用各个加速应力水平下产品的无失效试验数据,较好地解决了产品进行无失效加速寿命试验的可靠性评估和寿命预测问题.      

可靠性增长、可靠性研制试验和可靠性增长试验及其相互关系分析

论述了可靠性增长的基本概念和实现可靠性增长的各种途径,指出了可靠性研制试验和可靠性增长试验仅是产品可靠性增长工作的组成部分,是提高产品效费比的最好方法。详细阐明了可靠性增长试验与可靠性研制试验的关系和区别,指出了可靠性研制试验中最为有效的方法是高加速寿命试验。     

基于HALT方法的光纤陀螺用Y波导可靠性试验研究

Y波导集成光学器件(以下简称Y波导)作为光纤陀螺的核心部件,其可靠性对光纤陀螺整体的可靠性有很大影响。为了快速作出Y波导的可靠性及寿命估计,使用高加速寿命试验(HALT)的方法开展Y波导可靠性和寿命估计的研究,研究环境因素(高温、快速温变以及高湿等)对Y波导性能的影响,结果表明高温会显著影响Y波导性能,且Y波导的高温破坏极限为150℃,工作极限为130℃,主要影响的参数是插入损耗和分束比。使用120℃的条件进行Y波导的高加速寿命试验,得到Y波导在120℃的寿命约为1 120 h,等效于25℃的93年寿命,并根据失效数量随时间的变化绘制出了可靠性浴盆曲线。完成了对Y波导的可靠性评估和寿命估计。     

军用电子产品的高加速寿命试验

以军用电子产品的高加速寿命试验(HALT)为研究对象,分析了传统可靠性环境模拟试验的弊端,介绍了HALT试验的特性、目的、优点及发展现状,通过实际的HALT试验阐述了试验剖面设计及被试验产品工作极限的确定方法,并给出试验结论,为同类产品的可靠性设计提供了依据.     

基于性能退化模型的空间电子学设备加速寿命试验研究与应用

对基于Arrhenius模型、Norris-Landzberg模型和Peck模型等模型的加速寿命试验理论进行了简要阐述,针对空间应用系统空间电子学设备可靠性特点和加速寿命试验难点,提出了一种基于性能退化模型的电子学整机系统加速应力试验方法,最后给出了实例,为减少试验设计中的不确定性因素提供了一种新的思路。