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聚氨酯泡沫塑料拉伸本构关系及其失效机理的研究 总被引:5,自引:1,他引:5
通过 3种密度硬质聚氨酯泡沫塑料的拉伸实验,研究了它们的应力 -应变特性及其应变率效应。同时,为确定泡沫塑料拉伸失效机理,对材料进行了扫描电镜下的细观拉伸实验,观察了试件表面胞体的变形与失效过程,再结合宏观拉伸试件断口的扫描电镜分析,进一步讨论了泡沫塑料在拉伸加载下的失效机理。基于泡沫塑料的拉伸应力-应变曲线,用数值方法拟合了泡沫塑料的拉伸本构关系。 相似文献
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借助扫描电镜、透射电镜对试样的断口及剖面进行了金相观察,分析研究了第二相对GH33A合金在700℃下的晶界损伤方式及疲劳和蠕变交互作用的影响。 相似文献
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《航空精密制造技术》2014,(3)
将18Ni马氏体时效钢电子束焊缝在48℃进行时效处理,时效处理时间分别为1.5、2.5、4.5和6h。采用金相显微镜、扫描电镜观察了不同时效状态下的18Ni马氏体时效钢电子束焊缝的微观组织,测试了不同时效状态下焊接接头的拉伸强度和接头不同区域的硬度值,并用扫描电镜分析了拉伸断口形貌。结果表明,随着时效时间的延长,沉淀粒子粗化引起了过时效,同时马氏体开始逆转变为奥氏体和铁素体,使钢的强度逐渐下降,经480℃,4.5h时效处理后,焊接接头的拉伸强度最高。 相似文献
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利用冲液装置和高频窄脉宽脉冲电流,开展了镍锰合金的脉冲电铸试验。采用扫描电镜、透射电镜 及x射线衍射法对电铸层的沉积表面形貌、晶粒大小、相结构和结晶取向进行了测试与分析。 相似文献
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本文简要介绍了扫描电镜电压衬度像和束感生电流像技术的原理,发展,友及在半导体器件失效分析中的一些应用研究和典型案例。 相似文献
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李崇俊%金志浩%郑金煌%马伯信 《宇航材料工艺》2000,30(3):25-29
用两种经高温处理的碳纤维织物,以酚醛树脂作为基体先驱体,制备了二维C/C复合材料。通过扫描电镜(SEM),X-射线光电子能谱(XPS)研究了两种碳纤维(TCF和JCF)的表面状态,测试了C/C复合材料(TCC和JCC)的层间剪切强度,拉伸性能,SEM观察表明,TCF及JCF表面都有沟槽,但TCF横断面呈腰子形非圆形,XPS分析表明TCF表面含氧官能团数量多,力学测试结果为:TCC层间剪切强度(ILSS)高于JCC,达到16.1MPa;TCC拉伸强度,模量均高于JCC,而JCC断裂延伸率达1.1%,是TCC的3倍,拉伸断口SEM分析表明,TCC断口平整,无纤维拔出,呈脆断,JCC断口有纤维拨出,是纤维控制的多层基体断裂。 相似文献
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PMMA透光纳米复合材料的制备 总被引:2,自引:0,他引:2
利用同轴共纺技术制备出具有壳-芯结构的复合纳米纤维,再通过热压成型工艺将壳层的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)熔融,留下芯层的尼龙6(PA-6)纳米纤维作为增强材料,由此制备得到纳米纤维增强透光复合材料.实验结果表明,该复合材料较之纯PMMA板在力学性能上有明显改善,透光率则基本不受影响.应用SEM、TEM以及FTIR研究了复合纳米纤维的形貌和结构,并根据复合材料力学试验断口的SEM照片,分析了PA-6纳米纤维含量对复合材料力学性能和透光性能的影响. 相似文献
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李秀涛%许正辉%王俊山%赵高文%杨晓光 《宇航材料工艺》2007,37(6):99-104
利用场发射扫描电镜对难熔化合物掺杂C/C复合材料进行了原位三点弯曲测试,在线观测了裂纹的扩展模式和缺陷的演化规律,并结合OM、SEM和TEM所表征的微观结构,揭示了材料的断裂机理。结果表明:难熔化合物掺杂C/C复合材料的断裂以“弱界面断裂”为主,裂纹优先在基体碳、碳布层间及纤维束搭接处等薄弱环节中产生,成为材料的初始破坏面,随着载荷的增加,裂纹沿着薄弱界面进行扩展,形成贯穿性的大裂纹,并导致材料最终失效。 相似文献
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将中间相沥青和普通沥青在不同压力下进行炭化,分析两种沥青在不同压力下的成焦偏光组织和扫描形貌。结果表明,两种沥青炭化后的组织随压力的不同而不同。中间相沥青焦低压时以小域组织为主,高压时以广域组织和流线型组织为主。普通沥青焦在低压时以针状细流线组织为主,高压时以镶嵌型组织和小域组织为主。扫描分析表明,两种沥青炭随炭化压力的增大,气孔逐渐由孔径大小不均的大孔变为孔径较均一的小孔。在相同的炭化压力40MPa下,中间相沥青焦以层片状结构为主,而普通沥青焦以层片状和"葡萄"状结构为主。 相似文献
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针对高端夹层玻璃的老化问题,选用荧光紫外灯,对其主要粘结材料——透明聚氨酯胶片分别进行0/200/300/500 h的照射,借助紫外/可见光分光光度计、傅里叶红外光谱仪、扫描电镜等设备,研究照射过程中材料颜色、结构、微观形貌的变化。扫描电镜显示照射时间延长到500 h,材料表面出现龟裂。实验发现胶片的老化起始于硬段及软段部位与N,O相连的α位置的碳原子,在紫外光及氧气的联合作用下产生氢过氧化物;该过氧化合物一部分继续氧化成CO,一部分通过β分裂,使C—N,C—O键断裂,致使材料龟裂。 相似文献
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锻造TC4钛合金电子束焊接接头的疲劳破坏机制 总被引:1,自引:1,他引:0
对锻造TC4钛合金电子束焊接(EBW)接头进行了应力控制的高周疲劳试验和应变控制的低周疲劳试验,利用扫描电子显微镜对疲劳断口进行观察与分析,研究了疲劳裂纹的起裂机制.研究结果表明:所有的高周疲劳试样裂纹起裂位置和最后断裂位置均发生在母材区,而低周疲劳试验试样断裂位置表现出不确定性,在焊缝区和母材区均可导致裂纹起裂.高周疲劳载荷下,裂纹起源于表面滑移;低周疲劳时,裂纹可能在接头母材区的表面起裂,也可能在接头焊缝的内部缺陷处起裂,裂纹起裂模式取决于载荷大小. 相似文献