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飞机座舱有机玻璃结构疲劳寿命估算的局部应力法 总被引:1,自引:0,他引:1
基于飞机座舱有机玻璃为脆性材料的特性,提出估算飞机座舱有机玻璃结构件疲劳寿命的局部应力法。它以缺口件韧带上距离缺口根部d处的局部应力为参数,对照光滑试验件的S-N曲线,利用线性累积损伤理论,可以较好地预测结构件的疲劳寿命。对飞机座舱有机玻璃YB3的三种结构件进行了疲劳试验和寿命分析,结果表明:寿命估算结果与试验结果吻合较好。 相似文献
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本文研究了Weibull过程的双应力恒定应力加速寿命试验的统计分析问题,并给出了通常应力水平下均值函数m_(00)(t_0)的推断方法。 相似文献
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针对螺栓连接件疲劳寿命分散性问题,对某型飞机机翼主梁上的一种典型螺栓和连接孔进行测量,获得栓孔的配合间隙分布数据。并是隙影响的P-δ曲线,对螺栓连接件进行寿命估算和验证试验,得出相当吻合的结论。为飞机结构关键部位的螺栓连接件设计,特别是忆配合间隙的选择技术基础。 相似文献
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采用子结构方法对振动加载条件下组装有EBGA器件的印制电路板系统进行有限元建模,研究了振动环境下焊点疲劳速率与环境温度、振动频率之间的关系;然后又利用局部/整体相结合的方法对EBGA焊点中由于热循环试验导致的微裂纹在振动试验条件下的扩展情况进行了分析,研究结论可以为HALT试验中振动试验方案的制订以及热循环与振动试验结合方式的优化提供理论指南,最后对分析结果进行了试验验证。 相似文献
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目前常规条件下各种金属材料的S—N曲线已基本完备,但是考虑腐蚀环境影响的S—N曲线还很少见。本文研究了在加速腐蚀当量环境谱作用后,LY12-CZ铝舍金材料的S—N曲线随日历年限的变化规律。首先,将试件暴露于加速腐蚀环境中,进行0年、3年、8年和13年的腐蚀试验。其次进行常幅谱下的疲劳试验。试验结果表明:腐蚀环境作用后的疲劳寿命均值随日历年限的增加显著降低,而变异系数呈增长的趋势。鉴于腐蚀环境作用后的S—N曲线具有较强的非线性,本文采用反向传播网络对加速腐蚀后的疲劳试验结果进行训练,建立了日历腐蚀环境下材料S—N曲线的BP模型,仿真结果与试验结果吻合较好。 相似文献
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指出电子产品的可靠性增长、验证试验应采用与实际使用现场相仿的综合环境条件下进行,并结合工程实际介绍了综合环境试验的应用情况、经验和典型结果,并提出了存在的问题。 相似文献
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可靠性增长试验是以暴露产品的薄弱环节为出发点,并证明改进的措施有效,以达到可靠性增长的目的,文中谈及的可靠性增长与增长试验综合设计和管理方法是结合航天工程实践的具体经验总结,对今后如何更好的制订可靠性增长综合计划,开展好可靠性增长试验具有现实意义,值得借鉴。 相似文献
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对两个厂家生产的小灯泡的失效分布进行了一致性检验及拟合优度检验,分析表明,它们的寿命不属同一母体,但均限从对数正态分布,根据可靠性评定的结果,选择可靠性下限较高的A厂的小灯泡是适当的. 相似文献
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详细地分析了电视机的验收试验信息,结果指出,通过整机电老炼能显著地提高电视机的可靠性,其可靠性增长规律可用AMSAA-BISE模型很好地拟合,并为电视机的老炼时间提供了一种优化设计方法. 相似文献
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指出高效应力筛选是保证电子产品可靠性的有效途径。并结合号可靠性工程实际介绍了高效应力筛选的应用情况、典型结果和实践经验,并提出了开展筛选试验的注意事项和当前亟待解决的问题。 相似文献
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再入飞行器系统综合环境可靠性试验 总被引:2,自引:0,他引:2
对系统进行多项环境和各分系统相互间作用的考核,实现系统的综合环境试验,在给定可靠性评定方案下,验证系统的实际可靠性,是当今一项先进技术,要求较高的技术水平。经多年研究,首先对再入飞行器系统实现了这项试验。从综合环境条件的确定、可靠性评定方案的建立、环境条件的模拟和控制等方面作了介绍,由于技术上的先进性、有效性及复杂性,对此我国宇航界产生了很大兴趣。 相似文献
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可靠性工程中的经验Bayes方法(Ⅰ) 总被引:3,自引:0,他引:3
简要介绍了可靠性工程广泛采用的经验的Bayes方法,对这一方法的优缺点及其适用范围进行了系统的分析,对当前研究工作中存在的一些问题进行了评论。 相似文献
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本文首先分析了结构强度检验的现状及存在问题,讨论了结构可靠性检验的一般概念和常用的三种抽样检验方法,包括抽样样本平均值的检验方法、计量序贯检验方法和抽样个值的检验方法.根据抽样检验理论,本文提出了飞行器结构强度可靠性检验的合格系数概念及如何确定它的方法.合格系数与安全系数是本质上不同的两种概念,前者决定抽样检验的合格载荷,后者决定强度计算的设计载荷. 相似文献
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郑永龙 《长沙航空职业技术学院学报》2012,12(3):48-50
现代飞机中使用的电路板大量采用集成度很高的IC,尤其是BGA器件。传统的测试方法已经无法进行或者测试效率很低,并且测试的覆盖率也不高,电路板调试工作极为困难,迫切需要一种高效的测试手段来解决硬件测试中遇到的难题。文章采用边界扫描技术设计的电路板自动测试设备(ATE)很好的解决了高性能电路板测试的难题。 相似文献