论加速可靠性增长试验(Ⅵ)步进应力试验方案

为克服恒定应力加速可靠性增长试验(CSARGT)的缺点，提出单台和多台故障终止及时间终止的四个步进应力加速可靠性增长试验(SSARGT)方案，并给出了这些方案用幂律-线性化模型统计分析时的似然函数。     

论加速可靠性增长试验(Ⅳ)分组数据的数值方法

基于Arrhenius-幂律模型，给出了分析恒定应力加速可靠性增长试验（CSARGT）分组数据的数值方法，它们包括对CSARGT四项基本假定的统计检验，在诸加速应力水平Si下幂律模型参数与MTBF的极大似然估计（MLE）与区间估计，加速方和系数的最佳线性一无偏估计（BLUE），加速系数与正常应力水平S0下折算的MTBF的区间估计，并用数值例说明了这些方法。     

论加速可靠性增长试验(Ⅲ)分组数据的图方法

基于Arrhenius－幂律模型，给出了分析恒定应力加速可靠性增长试验分组数据的图方法。它们包括：增长趋势、幂律模型的拟合优度、相同故障机理及拟合加速方法的图检验；幂律模型参数、加速方程系数、加速系数、激活能及正常与加速应用水平下MTBF的图估计，并用实例说明这些方法。     

恒定应力无失效加速寿命试验可靠性分析方法

针对工程中缺少有效方法处理加速寿命试验中出现的无失效数据的情况,提出一种恒定应力水平下的无失效加速寿命试验可靠性分析方法.该方法首先将各个加速应力水平下的无失效寿命试验数据转换到正常应力水平,然后通过对正常应力水平下的无失效寿命数据进行分析,实现产品的可靠性评估与寿命预测.利用该方法对某型号卫星地球敏感器扰性枢轴的无失效加速寿命试验数据进行分析处理,结果表明该方法切实可行,能够充分利用各个加速应力水平下产品的无失效试验数据,较好地解决了产品进行无失效加速寿命试验的可靠性评估和寿命预测问题.      

论加速可靠性增长试验(Ⅱ)理论基础

建立了加速可靠性增长试验（ARGT）的理论基础，包括给出ARGT的加速系数（Af）的定义与性质，这些性质与正常加速应力条件下有相同故障机理条件间的本质联系，并将这些结果用于常见的可靠性增长模型。最后提出了作ARGT统计分析所依据的基本假定。     

可靠性增长试验

说明了可靠性增长试验与可靠性研制试验、环境应力筛选、可靠性鉴定试验等其他可靠性试验，在诸如目的、适用时机、试验持续时间、试验环境条件、费用、风险方面的差别。介绍了国外公司在进行可靠性增长试验时，对试验时机和增长率的选择，试验计划曲线起始点、持续时间、样本量的确定，以及增长试验计划的制定等问题所采用的方法。     

论加速可靠性增长试验 (Ⅶ )步进应力试验方案的统计分析

对幂律-线性化模型步进应力加速可靠性增长试验方案，给出了模型参数，加速系数及MTBF的极大似然估计，极大后验估计，Bayes估计及其计算方法，对这些方案给出了Monte Carlo模拟方法，并用数值例说明了这些方法。     

加速退化试验测量不确定度评定方法

受测量分散性、仪器误差等因素影响，加速退化试验中存在测量不确定性问题。提出了加速退化试验测量不确定度的传播与评定方法，以提高试验评估结果的准确性和可信性。首先，介绍了加速退化试验中的测量不确定度来源，并结合维纳过程加速退化模型参数估计过程分析了测量不确定度的传播效应；其次，分别利用测量不确定度指南评定法（GUM）和蒙特卡洛法，量化评定了加速退化试验中性能观测数据测量不确定度对正常应力水平下产品可靠性评估结果的影响；最后，采用某型空间用高分子传感器案例对本文所提方法进行验证，并针对2种方法的估计结果进行了对比分析，验证了所提出方法的有效性。     

可靠性增长、可靠性研制试验和可靠性增长试验及其相互关系分析

论述了可靠性增长的基本概念和实现可靠性增长的各种途径,指出了可靠性研制试验和可靠性增长试验仅是产品可靠性增长工作的组成部分,是提高产品效费比的最好方法。详细阐明了可靠性增长试验与可靠性研制试验的关系和区别,指出了可靠性研制试验中最为有效的方法是高加速寿命试验。     

机载电子产品可靠性定量加速增长试验技术

传统的可靠性试验在环境与时间上存在不足,已很难满足现代飞机可靠性试验工作的要求.基于故障物理学,通过研究航空电子类机载设备在综合环境应力条件下的故障原因及其分布规律,结合传统可靠性加速试验和增长试验的特点,提出一种可靠性试验的新方法,详细介绍具体的试验方法、试验流程、试验应力、故障处理要求和评估方法等关键技术,并将其应用在受试产品的典型案例中.结果表明:当产品试验时间达到952.4 h时,故障数为0,可以认为该产品以70％的置信度确定产品的平均故障间隔时间已达到25 000 h;本文提出的可靠性试验方法能够有效解决基于环境模拟的传统可靠性试验方法和评估技术不能在短的研制周期内评估高可靠性指标要求的机载设备的工程难题,可以实现加速因子的多样、可控,有效地缩短试验时间,节约试验经费.     

机载计算机结构加速寿命试验原理及实现

加速寿命试验是解决高可靠、长寿命产品可靠性评估等问题的重要加速试验技术。传统的寿命试验方法需耗费大量的时间与成本,而加速寿命试验则通过提高应力水平来加速产品性能衰退,在可以接受的时间内得到有效的试验数据,并预测出产品在正常应力下的寿命。介绍了加速寿命试验产生的背景、基本概念、基本假设、基本理论和具体实现步骤,并以某机栽计算机为例,说明了加速寿命试验的应用过程。     

论加速可靠性增长试验(Ⅴ)单独故障时间数据的统计方法

基于Arrhenius或逆幂律－幂律模型，以恒定应力加速可靠性增长试验（CSARGT）的单独故障时间数据的情况，给出了统计分析方法，并用数值例说明了这些方法。     

论加速可靠性增长试验（Ⅰ）新方向的提出

在分析总结加速寿命试验（ＡＬＴ）及可靠性增长试验（ＲＧＴ）的基础上,首次提出了加速可靠性增长试验（ＡＲＧＴ）这个新方向,并指出了在研究ＡＲＧＴ时将会遇到的主要问题以及解决这些问题的途径。     

论加速可靠性增长试验(I)新方向的提出

在分析总结加速寿命试验 (ALT)及可靠性增长试验 (RGT)的基础上 ,首次提出了加速可靠性增长试验 (ARGT)这个新方向 ,并指出了在研究ARGT时将会遇到的主要问题以及解决这些问题的途径     

高加速寿命试验

介绍了高加速寿命试验的产生、有关定义和目标、使用的应力和确定原则,说明了高加速寿命试验的应用对象、时机及实施过程,并概括总结了高加速寿命试验的结果及其优点。     

对机载武器可靠性试验剖面环境应力的探讨

通过对可靠性试验标准中有关空中发射武器和组合式外挂环境应力问题的分析,探讨了确定机载武器可靠性试验剖面环境应力时应注意的一些问题,并提出了可行的方法。     

机载电子产品加速试验研究进展

舰载机机载产品在服役过程中故障率高,故障机理复杂,制约了舰载机作战效能发挥,而传统设计生产阶段的可靠性鉴定试验方法,不能有效推断产品在服役环境下的真实可靠性水平。加速试验是解决高可靠性、小样本产品可靠性评估和验证问题的有效方法,具有低成本、短周期等特征。系统分析了加速试验方法在机载电子产品全寿命周期中的应用现状,包括电子产品加速试验的基本模型、存在问题和发展趋势,从而为有效开展机载电子产品的加速试验提供借鉴。     

可靠性加速试验技术与传统可靠性试验技术的对比分析

阐述了可靠性加速试验的内涵 ,并从试验机理、方法、所用数学模型和假设、环境条件以及试验结果等方面对可靠性加速试验技术和传统可靠性试验技术进行了详细的对比分析。     

可靠性增长试验实施的技术关键及其应用

简要介绍了可靠性增长试验的基本概念;说明了增长试验的目的及增长试验与可靠性增长和环境应力筛选的本质区别;详细地论述了可靠性增长试验实施的关键技术中的两项技术:计划的增长曲线的绘制和试验跟踪技术,如曲线参数(起始点、斜率)确定准则,用模型进行跟踪的方法,并结合自己的实践提供了应用实例;最后,对在航空系统开展可靠性增长试验提出了几点看法。     

基于应力分布模型的随机疲劳加速试验设计

将两段式S-N曲线应用于Dirlik随机振动疲劳寿命预测模型，分段计算各自的疲劳损伤并进行叠加。基于该模型所模拟的应力幅值分布，推导了在两段式S-N曲线的情况下激励放大倍数同疲劳寿命之间的等效关系，并提出了基于该等效关系的加速试验寿命换算方法，为加速试验应力等级的确定提供了参考。针对随机振动中小应力幅占比较大的情况，该方法优化了这一部分的损伤计算方式，同时该方法还可以推广至超高周疲劳等需要使用多段式S-N曲线表达疲劳性能的情况中去，得到更加贴近实际的理论疲劳寿命与加速寿命间的等效关系。通过分析算例表明，在两段式S-N曲线下，应力与寿命也大体呈现出了两段式的对数线性关系，并使用文献中的试验数据进行了验证。