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| 强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究 | |
| 引用本文： | 侯民胜,陈亚洲.强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究[J].航天电子对抗,2001(5):45-48. |
| 作者姓名： | 侯民胜 陈亚洲 |
| 作者单位： | 军械工程学院静电与电磁防护研究所,石家庄,050003 |
| 摘 要： | 为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应 ,在GTEM室内进行了辐照效应实验。实验表明 ,单片机系统在强电磁脉冲作用下 ,会出现“死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象。在实验基础上 ,对单片机系统的各种效应进行了深入研究。 |
| 关 键 词： | +强电磁脉冲 +单片机系统 辐照效应 |
| 修稿时间： | 2001年2月15日 |
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