| 高值电阻国际比对的方法研究 |
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| 引用本文： | 黄小钉. 高值电阻国际比对的方法研究[J]. 宇航计测技术, 2005, 25(5): 38-41 |
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| 作者姓名： | 黄小钉 |
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| 作者单位： | 北京东方计量测试研究所,北京,100080 |
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| 摘 要： | 介绍了参加亚太实验室认可合作组织(APLAC)开展的高阻1 MΩ;10 MΩ实验间比对的方法,对一种用参考电压测量高阻的方法进行了描述,解决了其中的技术问题,对测量不确定度进行了分析,其结果为测量1MΩ的合成标准不确定度为3.10-6,测量10 MΩ的合成标准不确定度为5.10-6,APLAC公布的比对中期报告证明了该方法的可靠性。
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| 关 键 词： | 高值电阻 比对方法 |
| 文章编号： | 1000-7202(2005)05-0038-04 |
| 修稿时间： | 2004-08-15 |
Research of the Method in International High Resistances's Contrast |
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| HUANG Xiao-ding. Research of the Method in International High Resistances's Contrast[J]. Journal of Astronautic Metrology and Measurement, 2005, 25(5): 38-41 |
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| Authors: | HUANG Xiao-ding |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | High resistance Contrast method |
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