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| 电子元器件、设备的气候环境试验 | |
| 引用本文： | 张卫.电子元器件、设备的气候环境试验[J].强度与环境,1985(3). |
| 作者姓名： | 张卫 |
| 作者单位： | 航天工业部北京强度与环境研究所 |
| 摘 要： | 在现代工业社会中,各种电子仪器设备在各个领域都被广泛地应用着。任何电子设备在其制造、运输、贮存和使用过程中,必然会受到它周围自然和诱导的气候环境因素的有害影响。随着现代科学技术,特别是航空航天技术的发展,各种产品所处的环境可能更复杂,更严酷。这就要求在开始研制时,就应该考虑预期的境环因素对电子元器件、设备的影响,并采取相应的防护措施。为此,必须开展电子元器件、设备环境条件和环境试验方法的研究, |
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