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分类号
杂志ISSN号
平板局部平面度检定的现状与发展浅析
作者姓名:
张泰昌
作者单位:
北京计量科学研究所
摘 要:
综述了各国平板局部平面度检定方法、成就与问题,指出了该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。
关 键 词:
平面度测量,~+检定方法,~+科技信息
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