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平板局部平面度检定的现状与发展浅析
作者姓名:张泰昌
作者单位:北京计量科学研究所
摘    要:综述了各国平板局部平面度检定方法、成就与问题,指出了该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。

关 键 词:平面度测量,~+检定方法,~+科技信息
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