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基于背景纹影技术的随机介质折射率场测量
作者姓名:高磊  许东
作者单位:北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院,北京 100191
基金项目:国家自然科学基金(61378077)
摘    要:针对光线通过复杂流场时产生的光传输效应问题,提出了基于背景纹影技术的复杂折射率场测量方法,给出了根据粒子图像偏移量求解折射率场分布的计算方法和推导过程,并对该方法的分辨率与灵敏度进行了理论分析。在此基础上,对火焰上方折射率场的分布进行了实验测量,利用粒子图像测量(PIV)技术对实验图像进行处理。结果表明:实验测量得到的空气折射率最大值为100029,最小值为100009,测量有效值小于00001。表明该方法具有较高的测量精度,能够有效实现复杂折射率场的实时精确测量。 

关 键 词:背景纹影技术   随机介质   折射率场测量   摄影纹影系统   流动显示
收稿时间:2016-04-27
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