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| 测量高损耗材料在高频下的电容和电阻的新方法 | |
| 引用本文： | Yoshiharu Masudu,翁瑞琪.测量高损耗材料在高频下的电容和电阻的新方法[J].宇航计测技术,1982(2). |
| 作者姓名： | Yoshiharu Masudu 翁瑞琪 |
| 摘 要： | 本文介绍精密测量高损耗材料(Q_x 值低至5×10~(-3)左右)的电容 C_x 和损耗电阻 R_x 的新方法。一测量电路的原理图1示出可在高频下不受并联电阻值的影响、准确测量电容和同时侧量该并联电阻的电子电路。图1(")示出的为静电藕合并联谐振式电路,图1(b)则为电磁祸合串联谐振 |
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