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| 微处理机的测试方法 | |
| 引用本文： | 黄曼萍.微处理机的测试方法[J].航空电子技术,1982(3). |
| 作者姓名： | 黄曼萍 |
| 摘 要： | 电子设备和其它设备一样,采用折衷方法是不可避免的。在微处理机中,由于它们固有的复杂性,允许微处理机取代硬布线的逻辑板,但随之也带来下述问题:由于器件的复杂性随着用途的增加而不断增加,使用之前如何对这些复杂的器件进行充分的测试是个需要解决的问题。半导体制造厂对产品至少进行两次测试:第一次是在薄片试样阶段,挑出明显不合格的产品;第二次是在最后测试阶段,对封装 |
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