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| 卫星用半导体器件失效模式和机理分布 | |
| 引用本文： | 夏泓,江理东.卫星用半导体器件失效模式和机理分布[J].中国空间科学技术,1992,12(4):55-58. |
| 作者姓名： | 夏泓 江理东 |
| 作者单位： | 北京卫星环境试验工程研究所 (夏泓，江理东，戴俊)，北京卫星环境试验工程研究所(姚建廷) |
| 摘 要： | 以中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心1987～1990四个年度数百份失效分析报告为依据,得到卫星用半导体器件解剖前失效模式分布:逻辑失控占36.3%,开路占22.2%等;失效机理分布:铝腐蚀占1 6.3%,使用不当占14.6%等。该项研究以第一手数据首次全面、系统指出卫星用器件失效模式和机理。为卫星可靠性设计、优选器件厂及器件厂采取措施提供重要依据。 |
| 关 键 词： | 卫星 半导体器件 失效机理 可靠性 |
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