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| 试样表面应力对钢中残余奥氏体含量影响的探讨 | |
| 引用本文： | 钟守仁,杨炳光,杨春馥.试样表面应力对钢中残余奥氏体含量影响的探讨[J].宇航材料工艺,1986(1). |
| 作者姓名： | 钟守仁 杨炳光 杨春馥 |
| 作者单位： | 北京材料工艺研究所 (钟守仁)，航空部621所 (杨炳光)，北京钢铁研究总院(杨春馥) |
| 摘 要： | 本文着重探讨了试样表面应力对残余奥氏体测试的影响。结果表明:对同一块试样施加应力后测得的残余奥氏体量与经电解抛光、消除应力后测得的残余奥氏体量有差别,试样表面存在应力时比消除应力后的残余奥氏体量低。因此,采用X射线衍射仪测定钢中残余奥氏体时,表面状态很重要,务必经电解抛光后再进行测量,方能获得比较精确的结果。 |
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