| VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法 |
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| 引用本文： | 沈森祖,石坚,汪喜麟.VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法[J].航空计测技术,2001,21(1):36-38. |
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| 作者姓名： | 沈森祖 石坚 汪喜麟 |
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| 作者单位： | 武汉数学工程研究所!武汉市洪山区珞瑜路718号，430074，武汉数学工程研究所!武汉市洪山区珞瑜路718号，430074，武汉数学工程研究所!武汉市洪山区珞瑜路718号，430074 |
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| 摘 要： | 在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测试系统的测试工作者参考。
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| 关 键 词： | VLSI 测试 误差 |
| 文章编号： | 1002-6061(2001)01-0036-03 |
| 修稿时间： | 2000年9月4日 |
Method of Eliminating Error Caused by User's Aid-hardware during the Test of VLSI Chip |
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| Shen Senzu,Shi Jian,Wang Xilin.Method of Eliminating Error Caused by User''''s Aid-hardware during the Test of VLSI Chip[J].Aviation Metrology & Measurement Technology,2001,21(1):36-38. |
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| Authors: | Shen Senzu Shi Jian Wang Xilin |
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| Abstract: | During VLSI test,the error caused by user's aid\|hardware is always the key problem cumbering the precision and reliability of test and measurement.Based on ITS9000MX,this paper introduces a method of eliminating the error caused by user's aid\|hardware during VLSI test.Under the existing condition,this method is simple and convenient.It can be a reference for the tester who has the relative measuring system. |
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| Keywords: | VLSI Measurement Error |
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