| DD6单晶叶片射线检测中常见疑似缺陷显示的试验研究 |
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| 引用本文： | 刘庆珍.DD6单晶叶片射线检测中常见疑似缺陷显示的试验研究[J].航空材料学报,2011,31(Z1). |
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| 作者姓名： | 刘庆珍 |
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| 作者单位： | 北京航空材料研究院,100095 |
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| 摘 要： | 针对DD6单晶叶片射线检测底片上出现的一些疑似缺陷,作者从理论分析和具体实验两方面进行了研究.从叶片的材料性能和铸造角度分析,DD6单晶叶片可能存在孔洞类的内部冶金缺陷.而设计的具体实验则是将收集的11片叶片样品进行解剖,并将断面与其射线底片进行对比,得出结论:这些疑似缺陷并不是金属内部冶金缺陷,而是表面缺陷.
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| 关 键 词： | 单晶叶片 射线底片 射线检测 |
Experiment Study for Doubtful Defects Indications on Radiographs of DD6 Single Crystal Blade |
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| LIU Qing-zhen.Experiment Study for Doubtful Defects Indications on Radiographs of DD6 Single Crystal Blade[J].Journal of Aeronautical Materials,2011,31(Z1). |
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| Authors: | LIU Qing-zhen |
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