高速总线控制芯片故障定位与失效机理研究

随着对数据传输能力要求不断提高，高速总线控制芯片的可靠性越来越受到关注，针对高速控制总线芯片在设计验证阶段失效问题进行分析，通过故障定位方法，系统研究了芯片在设计、封装及测试验证过程中的影响因素，确定芯片失效位置及机理，为总线控制电路过应力EOS防护设计提供参考，保证芯片在高速传输过程中的数据稳定以及低误码率。