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| 膜盒特性自动测试系统简介 | |
| 作者单位： | 三○四所膜盒自动测试小组 |
| 摘 要： | 膜盒特性自动测试系统是在数字化的基础上发展起来的。与膜盒特性有关的两个主要参数是真空压力和位移。本系统可以自动地采集在一定气压条件下膜盒的位移数据,从而获得膜盒的压力一位移特性曲线,并计算出与膜盒产品质量有关的各项性能指标。测量压力的设备是数字式振筒压力计,测量位移的设备是数字式光栅位移测量仪。本系统采用国产DJS-051B微型计算机,通过接口和上述外围设备及光电输入机、打印机、纸带穿孔机等外部设备相联,构成自动测试系统。系统框图 |
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