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再论电子设备可靠性试验中的几个统计概念
引用本文:
宁晋建.再论电子设备可靠性试验中的几个统计概念[J].飞机设计,1995(3):23-27,32.
作者姓名:
宁晋建
摘 要:
在电子设备可靠性试验中,人们常常对验证试验的几个统计参数展开热烈的争论和探讨。本文综合了几种不同的观点,对可靠性中的几个统计概念进行了分析、讨论,目的在于搞清概念同,求得共识,促进了可靠性验证工作的开展。
关 键 词:
电子设备
可靠性试验
统计参数
飞机
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