| 利用MF雷达对耀斑期间电离层D区电子密度的观测研究 |
| |
| 引用本文： | 张东和, 萧佐, 吴健, 龚建村, 刘四清. 利用MF雷达对耀斑期间电离层D区电子密度的观测研究[J]. 空间科学学报, 2003, 23(5): 334-342. |
| |
| 作者姓名： | 张东和 萧佐 吴健 龚建村 刘四清 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100080;北京大学地球物理系;中国电波传播研究所青岛分所;北京大学地球物理系;中国电波传播研究所青岛分所;中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100080 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(40274953,40134020),国家重点基础研究规划项目(G2000078408)共同资助项目 |
| |
| 摘 要： | 利用MF雷达观测资料对X级别耀斑爆发期间在66—80 km高度之间的电子密度进行了研究,观测到了耀斑爆发期间电子密度的突然增加,在较低高度上的电子密度的时间变化趋势与耀斑的软X射线辐射通量相关.电子密度的变化强度依赖于具体的耀斑参数,有些耀斑引起的电子密度增加高达400 cm-3,有些仅为100 cm-3左右.但耀斑期间在这一高度区间增加的总电子含量增量仅占耀斑辐射引起的整个电离层总电子含量增量的千分之一左右.最后,利用恢复阶段电子密度的时间变化过程估算了1997年11月4日耀斑期间部分高度上的有效复合系数.
|
| 关 键 词： | MF雷达 电子密度 耀斑 |
| 收稿时间： | 2003-02-18 |
| 修稿时间： | 2003-02-18 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《空间科学学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《空间科学学报》下载全文 |
|
