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杂志ISSN号
集成电路质量控制案例分析与建议
作者姓名:
侯雪川
马亚青
作者单位:
1. 中国航天科工集团公司第二研究院210所,北京,100854
2. 中国北方车辆研究所,北京,100072
摘 要:
选取集成电路实际失效分析典型案例,对其主要失效模式及失效机理进行分析与研究,并对集成电路的质量控制及整机产品的设计提出几点建议。
关 键 词:
集成电路
失效案例
质量控制
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