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| 浅谈电子元器件可靠性评价与质量控制策路 | |
| 引用本文： | 张全,贺卿,贠发红,唐旭.浅谈电子元器件可靠性评价与质量控制策路[J].航天标准化,2020(3):40-42. |
| 作者姓名： | 张全 贺卿 贠发红 唐旭 |
| 作者单位： | 中国空间技术研究院西安分院,西安,710000;中国空间技术研究院西安分院,西安,710000;中国空间技术研究院西安分院,西安,710000;中国空间技术研究院西安分院,西安,710000 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 电子元器件 可靠性评价 质量控制 |
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