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论在X射线探伤中曝光时间与管电压的关系
引用本文:丛伟,刘午,周海,张鹏.论在X射线探伤中曝光时间与管电压的关系[J].沈阳航空工业学院学报,2003,20(2):17-18.
作者姓名:丛伟  刘午  周海  张鹏
作者单位:沈阳航空工业学院机械工程系,辽宁,沈阳,110034
摘    要:本文针对X射线探伤中曝光时间与管电压的关系以及曝光时间在探伤中的实际意义做了详尽分析,并提出了对于不同厚度的零件如何选择曝光时间的原则。

关 键 词:X射线探伤  曝光时间  管电压  照相质量  清晰度
文章编号:1007-1385(2003)02-0017-02
修稿时间:2003年2月16日

Research on the relationship of exposition time and tube voltage in using X - ray to probe internal flaw of workpieces
CONG Wei,LIU Wu,ZHOU Hai,ZHANG Peng.Research on the relationship of exposition time and tube voltage in using X - ray to probe internal flaw of workpieces[J].Journal of Shenyang Institute of Aeronautical Engineering,2003,20(2):17-18.
Authors:CONG Wei  LIU Wu  ZHOU Hai  ZHANG Peng
Abstract:This paper illustrates the relationship of exposition time and tube voltage in the process of using X-ray to probe the internal flaw of the workpiece and proposes an general method for choosing the exposition time by different thickness of the workpiece.
Keywords:exposition  time  tube voltage  X-ray  
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