| 反辐射导引头测试环境误差分析 |
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| 引用本文： | 易红樱,王开斌. 反辐射导引头测试环境误差分析[J]. 航天电子对抗, 2010, 26(6) |
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| 作者姓名： | 易红樱 王开斌 |
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| 作者单位： | 空军驻中国航天科工集团二院283厂军代表室,北京,100854;中国航天科工集团二院二十五所,北京,100854 |
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| 摘 要： | 对于干涉仪体制的反辐射导引头,测试环境的好坏对其性能的正确评价具有非常大的影响.为了得到准确的测试结果,采用暗室测试,并在此基础上分析测试环境误差,如偏心距离、等相位面波动等对导引头测角特性的影响,分别给出了理论分析与仿真结果.所得结果为干涉仪体制反辐射导引头的工程测试和性能评估提供了理论依据,对完善导引头测试条件具有一定的意义.
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| 关 键 词： | 反辐射导引头 测角特性 暗室测试 误差分析 |
Error analysis of test environment for anti-radiation seeker |
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| Yi Hongying,Wang Kaibin. Error analysis of test environment for anti-radiation seeker[J]. Aerospace Electronic Warfare, 2010, 26(6) |
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| Authors: | Yi Hongying Wang Kaibin |
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