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对影响微波集成电路可靠性的有关缺陷的分析

引用本文：	李中岳.对影响微波集成电路可靠性的有关缺陷的分析[J].航天制造技术,1985(2).

作者姓名：	李中岳

摘要：	为保证微波集成电路(以下简称MIC)的长期稳定可靠,根据我们的工艺实践和体会,对影响MIC稳定可靠的宏观、微观缺陷及化学污染隐患进行分析并给出消除办法。
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