一种多功能芯片参数测试系统的设计

目前，国内的芯片参数测试系统大多都从国外进口，价格昂贵。本文讲述了基于STC12C5410AD单片机自主设计的一种多功能可扩展性强的芯片参数或动态特性的测试系统，介绍了其工作原理及硬件和软件设计。操作员利用计算机就可控制一整套测试步骤使之有条不紊的进行下去，减少了人为操作的失误与繁琐的手续。该测试系统成本低，应用程序界面友好，使用方便。