二因素随机效应模型下评估X射线单晶定向系统的重复性和再现性 |
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作者姓名: | 马春喜 |
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作者单位: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所; |
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摘 要: | 提出一种以总角度偏差作为观测数据,通过适当转换,从而方便地使用二因素随机效应模型评估X射线单晶定向测量系统重复性和再现性的方法。使用该方法安排了三组实验,分别用MINITAB计算得出了三个测试系统的重复性和再现性,并由此证明了即使在X射线单晶定向系统的校准满足要求的情况下,其测试系统的重复性和再现性也不一定满足要求,需要随时监控。
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关 键 词: | 单晶定向系统 总角度偏差 重复性 再现性 二因素随机效应模型 |
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