短周期SPC |
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引用本文: | 汪芸,何国伟.短周期SPC[J].质量与可靠性,2006(1):20-23. |
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作者姓名: | 汪芸 何国伟 |
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作者单位: | [1]深圳中兴通讯股份有限公司 [2]不详 |
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摘 要: | 常规控制图的分析用控制图需要n≥25个子样,当前很多新产品生产周期短.不具备这么多子样。常规控制图的n≥25,故近似地用σ的估计值σ代σ的误差不大。而当n较少时,再套常规控制图公式,就使第一种错误增大。本文从理论上分析n较少时的近似误差。说明需要调整常规控制图的系数。从而提供短周期SPC的程序及方法。用表引自Hillier(1969)及Prosehan与Savage(1960)的成果。
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关 键 词: | SPC 短周期(Short Run) CL UCL LCL 极差 |
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