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基于测试块滚动的FPGA自测试方法研究
引用本文:郭晓婷,刘淑芬.基于测试块滚动的FPGA自测试方法研究[J].航天控制,2007,25(5):89-93.
作者姓名:郭晓婷  刘淑芬
作者单位:北京控制工程研究所,北京,100080;北京控制工程研究所,北京,100080
摘    要:为了满足航天应用高可靠性的要求,实现对航天器FPGA生产和使用过程中可能发生的永久故障的及时检测,文章提出了一种基于测试块滚动的FP-GA自测试方法,该方法采用内建自测试的思想,与传统的测试方法相比,可以实现CLB级的故障定位,适用于FPGA芯片的筛选、固化以及在系统运行等各阶段的永久故障检测。

关 键 词:FPGA  内建自测试  故障检测
文章编号:1006-3242(2007)05-0089-05
修稿时间:2006年12月15

An FPGA Fault Detecting Approach Based on Self - test Area Roving
Guo Xiaoting,Liu Shufen.An FPGA Fault Detecting Approach Based on Self - test Area Roving[J].Aerospace Control,2007,25(5):89-93.
Authors:Guo Xiaoting  Liu Shufen
Abstract:In order to reach high reliability requirement in space applications and detect FPGA permanent faults related to manufacturing imperfections and system operations,we present a build-in self-test approach which is based on the self-test area roving.This approach achieves the CLB-level fault detection and can be used in the chip choosing and FPGA permanent fault in-system detecting.
Keywords:Field programmable gate array  Build-in self-test  Fault detecting
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