扫频相关干涉信号用作多参数指示的原理及其应用

本文介绍利用扫频技术形成的相关干涉信号和用该信号指示被测距离、时间、延迟、频率等多种参数的原理。此方法不仅可以用来对电子器件、部件的电参数和非电参数进行测量,而且也可用于复合多层介质(包括金属复合层)材料的无损检测。文中给出了在较宽频段内用多种设备和方法所取得的实验结果。实验结果表明,在三公分频段时,可检测出10毫米的缺陷,在八毫米频段时,可检测出0.7毫米的缺陷。