| 用3mm准光腔测试介质片复介电常数 |
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| 引用本文： | 雷丹%张其劭%李恩. 用3mm准光腔测试介质片复介电常数[J]. 宇航材料工艺, 2006, 36(2): 71-74 |
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| 作者姓名： | 雷丹%张其劭%李恩 |
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| 作者单位： | 电子科技大学微波测试中心,成都,610054 |
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| 摘 要： | 为了准确检测介质片在3 mm频段的复介电特性,采用固定腔长法,研制了工作在101.80 GHz的测试介质片复介电常数准光学谐振腔测试系统。结果表明:腔体的品质因数达8×104,高斯波束的束腰半径为2.36 mm。复介电常数的测试范围ε′为2~8;tanδ为3×10-4~5×10-3,最可几误差为│Δε′/ε′│小于等于10%;│Δtanδ│小于等于20%tanδ+1×10-4。此方法能检测大面积介质片复介电常数的均匀性。
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| 关 键 词： | 准光学谐振腔 介电常数 损耗角正切 品质因数 谐振频率 |
| 收稿时间： | 2005-10-23 |
| 修稿时间： | 2005-10-23 |
3 mm Qusai Optical Resonator for Measuring Complex Permittivity of Dielectric Materials |
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| Lei Dan,Zhang Qishao,Li En. 3 mm Qusai Optical Resonator for Measuring Complex Permittivity of Dielectric Materials[J]. Aerospace Materials & Technology, 2006, 36(2): 71-74 |
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| Authors: | Lei Dan Zhang Qishao Li En |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Quasi-Optical resonator Permittivity Loss tangent Quality factor Resonant frequenty |
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