基于半导体制冷的星载CCD测试用低温环境装置设计 |
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引用本文: | 丛山,张大宇,常明超,温强,袁鹏程,王贺.基于半导体制冷的星载CCD测试用低温环境装置设计[J].航天器环境工程,2019,36(1). |
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作者姓名: | 丛山 张大宇 常明超 温强 袁鹏程 王贺 |
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作者单位: | 中国航天宇航元器件工程中心,北京,100094;哈尔滨工程大学理学院,哈尔滨,150001 |
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摘 要: | 文章设计了一种基于半导体制冷的星载CCD测试用低温环境装置。该装置结合热电制冷器和抗积分饱和PID控制算法,以ARM内核的微控制器作为主控芯片,采用温度传感器采集温度信息,以脉冲宽度调制(PWM)技术控制热电制冷器的制冷功率,利用水冷散热装置散发热电制冷器发出的热量,实现制冷温度的精确控制。该装置低温箱小巧轻便,可装配于CCD测试暗箱内,利用暗箱壁上的通光孔设计,可实现低温环境下CCD明、暗场全参数测试,满足了宇航用CCD测试的高可靠需求。
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关 键 词: | 星载CCD 半导体制冷 双循环 PID控制算法 温度控制 |
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