| 高安全电子设备中RAM测试算法的设计与实现 |
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| 引用本文： | 杨晓宁,黄保垒,卫一芃.高安全电子设备中RAM测试算法的设计与实现[J].航空计算技术,2020,50(6):113-115. |
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| 作者姓名： | 杨晓宁 黄保垒 卫一芃 |
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| 作者单位： | 航空工业西安航空计算技术研究所,陕西 西安710068,航空工业西安航空计算技术研究所,陕西 西安710068,航空工业西安航空计算技术研究所,陕西 西安710068 |
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| 基金项目： | 装备预研联合基金项目资助 |
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| 摘 要： |
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| 关 键 词： | 电子设备 可靠性 RAM测试 March算法 |
Design and Implementation of a RAM Test Algorithm for High-security Electronic Devices |
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| YANG Xiao-ning,HUANG Bao-lei,WEI Yi-peng.Design and Implementation of a RAM Test Algorithm for High-security Electronic Devices[J].Aeronautical Computer Technique,2020,50(6):113-115. |
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| Authors: | YANG Xiao-ning HUANG Bao-lei WEI Yi-peng |
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| Abstract: | |
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