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| 现代表面分析——俄歇电子谱(AES)和x-射线光电子谱(XPS)在冶金学中的应用 第三讲 自由表面的AES和XPS分析在冶金学上的应用 | |
| 作者姓名： | A.Joshi 吴廉亿 |
| 作者单位： | Perkin-Elmer公司表面科学分部实验室 |
| 摘 要： | Ⅰ、序言 表面的化学组成对材料的性能起着重要作用。诸如硬度、摩擦、疲劳、润滑和磨损特性、吸附、表面活性、催化作用、表面扩散、晶体生长、二次电子及热电子发射特性等只是可列举出的一些受表面化学变化影响的特性或现象。在最近十年,随着表面分 |
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