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杂志ISSN号
纳米电子时代可靠性研究的挑战
作者姓名:
Way Kuo 沈岭(译) 任立明(校)
作者单位:
[1]IEEE可靠性学报主编 [2]中国航天标准化研究所
摘 要:
为了适应未来的发展.我们除了要在一些重要的前沿研究领域探索和发现跨学科的关系,还必须要在可靠性方面获得重大突破。当今的设计和制造技术在一段时间内已经渐渐地从微米时代发展到纳米时代.但是,可靠性方面的进展却没有跟上这样的发展步伐。
关 键 词:
纳米时代 可靠性 电子时代 制造技术 跨学科
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