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| 光电显微镜中隔圈设计的公差控制 | |
| 引用本文： | 张家远.光电显微镜中隔圈设计的公差控制[J].航空计测技术,2001,21(5):41-42. |
| 作者姓名： | 张家远 |
| 作者单位： | 中国航空长城计量测试技术研究所 北京市1066信箱开发一部，100095 |
| 摘 要： | 为了提高光电显微镜的瞄准精度、必须同时提高光学、机械两方面的设计水平，其中隔圈公差控制是保证光电显微镜精度的关键。本文详细地分析了隔圈的标注方法。 |
| 关 键 词： | 光电显微镜 隔圈 公差控制 瞄准精度 标注方法 设计方法 |
| 文章编号： | 1002-6061(2001)05-0041-02 |
| 修稿时间： | 2001年2月5日 |
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