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电子器件高温稳态寿命试验问题研究
引用本文:
薛仁经.电子器件高温稳态寿命试验问题研究[J].质量与可靠性,2002(1):28-31.
作者姓名:
薛仁经
摘 要:
简述了电子器件的新产品进行“鉴定检验”和“质量一致性检验”的重要作用,通过国内外电子器件工作寿命试验及其要求的比较和分析,说明了军用电子器件必须进行高温1000h稳态寿命试验的缘由,并对如何加强这一工作提出了建议。
关 键 词:
电子器件
工作寿命
高温试验
长时稳态试验
电子元器件
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