| 三角形电极离子阱单向出射及高阶场影响的理论模拟研究 |
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| 引用本文： | 姚如娇,何洋,齐晓军,肖育.三角形电极离子阱单向出射及高阶场影响的理论模拟研究[J].南京航空航天大学学报,2018,50(S2):63-68. |
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| 作者姓名： | 姚如娇 何洋 齐晓军 肖育 |
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| 作者单位： | 1. 上海卫星装备研究所, 上海, 200240;2. 上海裕达实业有限公司, 上海, 200240 |
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| 基金项目： | 上海市经济信息委员会2015年上海市军民结合（专项〈2015〉413号）资助项目。 |
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| 摘 要： | 为了扩展离子阱质谱仪在航天领域中的应用范围，本文利用模拟研究方式来提高三角形电极线性离子阱（Triangular-electric linear ion trap，TeLIT）的离子检测效率。本文利用模拟软件SIMION和AXSIM进行理论模拟，采用施加不对称射频电压的方式，研究TeLIT离子单向出射，并通过改变电极角度α来探究高阶电场成分对离子单向出射性能的影响。实验结果表明：当α取目前报道的最优参数140°时，在射频电压差Δ=20%处，获得的离子单向出射率可达89.5%。而当α=135°时，获得的最高离子单向出射效率接近95%，优于TeLIT最优参数α=140°时的出射率。此外，本文还讨论了不同α情况下，获得最高出射效率时，模拟质谱峰的质量分辨率，结果表明扫描速率约为1 500 Th/s时，α=135°时获得的质量分辨率可达2 500。
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| 关 键 词： | 三角形电极线性离子阱 离子单向出射效率 高阶电场 质量分辨率 |
| 收稿时间： | 2018/3/23 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2018/5/30 0:00:00 |
Theoretical Simulation for Ion Directional Ejection and Higher Fields Effects in Triangular-Electric Linear Ion Trap |
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| YAO RuJiao,HE Yang,QI XiaoJun,XIAO Yu.Theoretical Simulation for Ion Directional Ejection and Higher Fields Effects in Triangular-Electric Linear Ion Trap[J].Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics,2018,50(S2):63-68. |
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| Authors: | YAO RuJiao HE Yang QI XiaoJun XIAO Yu |
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| Institution: | 1. Institute of Spacecraft Equipment, Shanghai, 200240, China;2. Shanghai Yuda Industrial Limited Company, Shanghai, 200240, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | triangular-electric linear ion trap (TELIT) ion directional ejection efficiency higher fields mass resolution |
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