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| 退火算法在电子元件位置优化上的应用1) | |
| 引用本文： | 李晓明,高泽溪,吕善伟.退火算法在电子元件位置优化上的应用1)[J].北京航空航天大学学报,1999(1):1. |
| 作者姓名： | 李晓明 高泽溪 吕善伟 |
| 作者单位： | ：李晓明 高泽溪 吕善伟 （北京航空航天大学 电子工程系） |
| 摘 要： | 一块电路板上有电子元件，它们不仅有热源，而且相互作用，另外与空气还交换热.
对这类问题建立线性数学模型，从而算出温度稳态分布.
因为许多集成电路系统的可靠性很大程度上取决于温度，所以温度的模拟显得很重要.把温度模型与退火算法相结合可以获得元件最接近优化的布局，并用一个例子加以说明，通过优化能降低板子最高温度，从而提高系统的可靠性. |
| 关 键 词： | 差分法 温度 最佳化 系统可靠性 退火算法 |
| 修稿时间： | : 1997-10- |