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| 平板局部平面度检定的现状与展望 | |
| 引用本文： | 张泰昌.平板局部平面度检定的现状与展望[J].航空计测技术,1994,14(2):16-19. |
| 作者姓名： | 张泰昌 |
| 作者单位： | 北京市计量科学研究所!北京市，100029 |
| 摘 要： | 综述了各国平权局部平面度检定方法、成就与问题，指出该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。 |
| 关 键 词： | 局部平面度 技术指标 检定 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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