| 高温高Q腔法介电性能测试系统稳定性研究 |
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| 引用本文： | 何凤梅[],李恩[],李仲平[],张大海[],陈聪慧[].高温高Q腔法介电性能测试系统稳定性研究[J].宇航材料工艺,2009,39(1). |
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| 作者姓名： | 何凤梅[] 李恩[] 李仲平[] 张大海[] 陈聪慧[] |
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| 作者单位： | 1. 航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076
2. 电子科技大学,成都,610054 |
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| 摘 要： | 经测试原理分析,证明了高温空腔(测试腔体内无样品)特性(主要指谐振频率和品质因数)的准确性和稳定性是保证样品高温介电性能测试结果准确性和稳定性的必要条件.进行了室温～1 600℃定点温度下恒温时间为3、5和8 min、7～18 GHz的空腔特性测试,结果表明谐振频率相互之间相对偏差±0.05%,品质因数相互之间相对偏差<±5%,验证了恒温时间为3 min时可获得准确的高温空腔特性数据.还在不同时间不同季节多次对空腔进行了室温～1 600℃、7～18 GHz空腔特性测试,结果表明谐振频率之间相对误差<±0.04%,品质因数之间的相对误差<±5%,进一步验证了该测试系统可获得准确稳定的测试结果.
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| 关 键 词： | 高Q腔法 高温 介电性能 测试系统 稳定性 |
Stability for High Q Cavity Method for High Temperature Dielectric Measuring System |
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| He Fengmei,Li En,Li Zhongping,Zhang Dahai,Chen Conghui.Stability for High Q Cavity Method for High Temperature Dielectric Measuring System[J].Aerospace Materials & Technology,2009,39(1). |
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| Authors: | He Fengmei Li En Li Zhongping Zhang Dahai Chen Conghui |
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| Keywords: | |
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