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亚像素条纹边缘提取技术在型面测量上的应用
作者姓名:陈石平  毕娅  李晓星  周贤宾
作者单位:1.北京航空航天大学 机械工程及自动化学院, 北京 100083
摘    要:三维型面非接触测量在工业领域有着广泛的应用前景.双目视觉是一种有效获取三维轮廓信息的方法,其中对大密度的黑白相间条纹进行精确定位和提取,是基于投影光栅图像的光学三维型面测量的关键技术和难点.利用空间编码技术将被测空间划分为若干区域,每个区域对应一个二进制码.条纹落在区域上与唯一的二进制码相对应,就可以对条纹精确定位.利用边缘提取算法获得像素级条纹后,再利用亚像素技术可以进一步对条纹进行高精度提取.介绍了基于灰度矩的和基于多项式拟合的亚像素边缘检测算法.将空间编码和亚像素条纹提取技术相结合,对光栅条纹进行亚像素级定位和提取的技术,与像素级的定位技术相比,能提高图像的定位精度,有效地改善测量系统的性能. 

关 键 词:型面测量   空间编码   亚像素提取
文章编号:1001-5965(2006)08-0979-04
收稿时间:2005-10-14
修稿时间:2005-10-14
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