| 光电显微镜在孔径测量中的应用 |
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| 引用本文： | 何学军,熊昌友,李华峰,何英.光电显微镜在孔径测量中的应用[J].航空计测技术,2002,22(6):11-12,46. |
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| 作者姓名： | 何学军 熊昌友 李华峰 何英 |
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| 作者单位： | 中国航空长城计量测试技术研究所 北京100095
(何学军，熊昌友，李华峰)，中国航空长城计量测试技术研究所 北京100095(何英) |
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| 基金项目： | 航空科学基金资助项目 (0 0 14 4 0 4) |
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| 摘 要： | 静态光电显微镜在测量中可进行非接触瞄准，提高了瞄准精度，而且为检测自动化提供了可靠的基础，结合光显微镜的瞄准原则，建立数学模型可测量内孔孔径。
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| 关 键 词： | 光电显微镜 孔径 长度测量 |
| 文章编号： | 1002-6061(2002)06-0011-03 |
| 修稿时间： | 2002年9月24日 |
The Application of Photoelectric Microscope to Measuring Aperture |
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| He Xue jun,Xiong Chang you,Li Hua feng,He Ying.The Application of Photoelectric Microscope to Measuring Aperture[J].Aviation Metrology & Measurement Technology,2002,22(6):11-12,46. |
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| Authors: | He Xue jun Xiong Chang you Li Hua feng He Ying |
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| Abstract: | Measurement of non contact alignment with static photoelectric microscope improves the precision of aim and offers the reliable base of automeasurement.Combining with the alignment principle of the photoelectric microscope and establishing the mathematic model,the diameter of the inside pore can be measured. |
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| Keywords: | static statel photoelectric microscope model pore diameter |
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