某型号电子产品储存寿命的研究

从某型号电子产品中常用的几种电子元器件在非工作（储存）装态下失效率的分析入手，定量计算出它们各自不同的非工作失效率。在规定某一可靠度要求值的条件下，便可分别算出它们的储存寿命。这对于预计电子设备乃至型号产品的储存寿命，找出影响储存寿命的薄弱环节有重大的指导意义。