首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
VLSI门级及功能级混合测试生成技术
作者姓名:
赵战平
作者单位:
飞行自动控制研究所
摘 要:
介绍了混合形式自动测试图形生成技术,该技术将门级测试图形生成技术与在线路高一级抽象形式上进行测试生成技术相结合。利用该技术开发的自动测试生成程序在内附检测器自动植入模块后可用于VLSI线路的设计系统。
关 键 词:
自动测试生成系统
门级测试生成
基本功能单元
并存错误检测(CED)
本文献已被
CNKI
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号